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MiniTest涂層測(cè)厚儀

更新時(shí)間：2025-07-13

產(chǎn)品特點(diǎn):
涂層測(cè)厚儀MiniTest 720/730/740：
的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測(cè)量的性。測(cè)量范圍達(dá)15mm，可換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用。FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯(cuò) 。

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產(chǎn)品介紹

涂層測(cè)厚儀MiniTest 720/730/740介紹：

新的MINITEST 700涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品線(xiàn)，加強(qiáng)了德國(guó)EPK（Elektrophysik）公司在涂層測(cè)厚市場(chǎng)的。

- 的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)

詳細(xì)了解什么是SIDSP技術(shù)

有了新的SIDSP探頭，您可享受到高度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢(shì)和便利。新的MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以解決您所有涂層厚度問(wèn)題，而產(chǎn)品的外觀是您長(zhǎng)期價(jià)值和成功的關(guān)鍵，比如汽車(chē)、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。

增加了測(cè)量速度設(shè)置選項(xiàng)
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以讓您輕松變換測(cè)量需求。在對(duì)精度要求不高的條件下，您可以短時(shí)間測(cè)量大量數(shù)值；也可以只測(cè)量少數(shù)幾個(gè)數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測(cè)量值超過(guò)您所設(shè)定的極限值時(shí)，儀器會(huì)報(bào)警，保證您即使在快速模式下也不會(huì)錯(cuò)過(guò)信息。儀器具備聲、光報(bào)警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過(guò)極限值則用紅色LED燈提示。

使用簡(jiǎn)單方便
MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計(jì)，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗(yàn)的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測(cè)量難以到達(dá)的部位。MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀可以滿(mǎn)足您所有涂層測(cè)量需求：如果您想單手測(cè)量，可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號(hào)都配有超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。

預(yù)設(shè)選項(xiàng)節(jié)省您的時(shí)間和金錢(qián)
所有MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀的探頭都可以對(duì)不規(guī)則形狀表面做出補(bǔ)償。當(dāng)您在無(wú)涂層基體上校零時(shí)，整個(gè)量程范圍都在這個(gè)特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進(jìn)行校準(zhǔn)。為節(jié)省您的時(shí)間和金錢(qián)，儀器預(yù)設(shè)了大量校準(zhǔn)方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠(chǎng)校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，兩點(diǎn)校準(zhǔn)和三點(diǎn)校準(zhǔn)。另外，還有針對(duì)不同粗糙程度的粗糙度校準(zhǔn)。FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體類(lèi)型避免操作者犯錯(cuò)。為適應(yīng)銷(xiāo)售需要，MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀滿(mǎn)足各種標(biāo)準(zhǔn)：SSPC-PA2、ISO、瑞典（SS184160）、澳大利亞（AS 3894.3）、ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。

MINITEST 700系列涂層測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)一覽：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值加
-可換探頭使用加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線(xiàn)
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線(xiàn)傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載新軟件

MINITEST700系列涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

主機(jī)型號(hào)	MINITEST 720	MINITEST 730	MINITEST 740
探頭類(lèi)型	內(nèi)置	外置	內(nèi)置外置可換
數(shù)據(jù)記憶組數(shù)	10	10	100
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量	zui多10,000個(gè)	zui多10,000個(gè)	zui多100,000個(gè)
統(tǒng)計(jì)值	讀值個(gè)數(shù)、zui小值、zui大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置）
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范	ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
校準(zhǔn)模式	出廠(chǎng)設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
極限值監(jiān)控	聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限
測(cè)量單位	μm，mm，cm；mils，inch，thou
操作溫度	-10℃~60℃
存放溫度	-20℃~70℃
數(shù)據(jù)接口	IrDA 1.0（紅外接口）
電源	2節(jié)AA電池
標(biāo)準(zhǔn)	DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2
體積	157mm x 75.5mm x 49mm
重量	約175g	約210g	約175g（內(nèi)置）/230g（外置）

探頭

探頭特性	F1.5，N07，F(xiàn)N1.5		F2	F5，N2.5，F(xiàn)N5		F15
	F	N	F	F	N	F
測(cè)量范圍	0~1.5mm	0~0.7mm	0~2mm	0~5mm	0~2.5mm	0~15mm
使用范圍	小工件，薄涂層		粗糙表面	標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛		厚涂層
測(cè)量原理	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)	磁感應(yīng)	電渦流	磁感應(yīng)
信號(hào)處理	探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%讀值）		±（1.5μm+0.75%讀值）			±（5μm+0.75%讀值）
重復(fù)性	±（0.5μm+0.5%讀值）		±（0.8μm+0.5%讀值）			±（2.5μm+0.5%讀值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半徑（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半徑（凹，外置探頭）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭）	30mm		30mm			30mm
zui小測(cè)量面積	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基體厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
連續(xù)模式下測(cè)量速度	每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下zui大測(cè)量速度	每分鐘70個(gè)讀數(shù)

MINITEST700系列涂層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

-MINITEST 720（內(nèi)置探頭） --或MINITEST 730（外置探頭） --或MINITEST 740主機(jī)（不含探頭，有各種探頭可選） -校準(zhǔn)套裝含校準(zhǔn)片和零板 -操作使用說(shuō)明CD，德語(yǔ)、英語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ) -中文說(shuō)明書(shū) -2節(jié)AA電池 -攜帶軟包

推薦配件 -F1.5/N07/FN1.5探頭用測(cè)量支架

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