日本日置HIOKI新發售阻抗分析儀IM7580：

HIOKI（日置）發售阻抗分析儀IM7580，高頻（300MHz），高速（0.5ms）測量，提高生產效率。

HIOKI這次發售了阻抗分析儀IM7580。

在信息化社會不斷進步的現在，為了收發大容量數據，高速差分傳輸等傳輸線也在高速發展中。這種高速傳輸線的歪斜（延遲時間差）和干擾解決方法中所使用的共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件也向高頻化發展。

這次發售的IM7580zui高可測300MHz的高頻，是能應對高頻化發展的電子元器件的產品。通過IM7580zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量速度，可以快速的檢查大批量的電子元器件，從而大幅提高電子元器件廠家的生產效率。

阻抗分析儀IM7580開發背景

現在，為了收發大容量數據，高速差分傳輸等傳輸線也在高速發展中。為了在保證高速傳輸線的信號品質的同時控制干擾，使用共模濾波器或鐵氧體磁珠等電子元器件，隨著傳輸線的高速發展，這類電子元器件也向高頻化發展。

而且，由于手機、手提電腦趨向于小型化，需要電源部分也向小巧的方向發展，出現DC-DC變頻器的開關頻率的高頻化的解決方案。因此，安裝在電源中的功率電感等電子零部件也向高頻化發展。

生產這類電子元器件的電子元器件廠家在電子元器件的開發和出貨檢查中需要進行高頻的測量。在出貨檢查中為了提高產量，需要使用能進行高速檢查的測量儀器。

在這樣的需求的基礎上，我司研發了可進行高頻、高速測量檢查的阻抗分析儀。

阻抗分析儀IM7580主要用途

電子元器件廠家的電子元器件的出貨檢查

電子公司的電子元器件的驗收和特性評估



阻抗分析儀IM7580的特點

1.zui高300MHz的高頻測量
IM7580的測量頻率為1MHz~300MHz。在以單一頻率測量的LCR表的模式下，判斷出貨檢查時的合格與否，改變頻率的同時在測量的分析模式下可用于產品開發的特性評估等多種領域中。
zui快0.5ms的高速測量或高穩定性的測量，有助于提高生產效率
2.可進行zui快0.5ms（0.0005秒）的高速測量。這樣，對于希望快速的檢查大批量電子元器件的電子元器件廠家來說能夠大幅提高生產效率。
而且，測量的反復精度提高到以往產品的1/10，讓測量加穩定，改善了生產產量，提高了生產效率。
3.主機體積小，有助于降低生產成本
在電子元器件廠家的生產線中，將各種儀器整合在機架上制作成檢查系統，然后進行自動檢查。因此，主機體積小的話，則檢查系統也會小巧，通過安裝多臺儀器可以索多檢查時間，從而降低生產成本。
IM7580的體積是半個機架的大小（長215mm，高200mm，厚268mm），一個機架可以安裝2臺。
4.各種各樣的判斷功能判斷合格與否
在單一的頻率測量的LCR表的模式下，有判斷電子元器件合格與否的比較器功能，選擇電子元器件的BIN功能。比較器功能中設置上下限值，以此為判斷標準來判斷是否合格。使用比較器功能是按照一個判斷標準判斷是否合格，而BIN功能是zui多設置10個判斷標準，然后進行排名。
使用多個頻率測量的分析模式的話，則有可從電子零部件的頻率特性中判斷合格與否的區域、峰值比較功能。區域判斷是確認測量值是否進入任意設置的判斷區域中的功能。峰值判斷是設置上限值、下限值、左限值、有限制后，判斷共振點的功能。